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Perfectionnement en métrologie des préemballages : cartes de contrôle et contrôles en production

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Ref.QE047
LieuParis
Prix750 € HT
DatesJeu 02 Avr 2020
Durée1 jour
Demande de renseignements
Autre session
RennesJeu 03 Déc 2020

 

Objectifs

  • Mettre en application les recommandations du guide DGCCRF sur le contrôle métrologique des préemballés
  • Savoir caractériser son σ de production, et définir le décentrage nécessaire pour respecter le taux de défectueux
  • Comprendre le concept de POM et optimiser les paramètres : décentrage / nombre d’échantillons / périodicité d’échantillonnage
  • Savoir concevoir et exploiter une carte de contrôle des contenus des préemballages et des produits (cartes de contrôle de Shewart, limites de contrôle)
  • Mise en application sur des études de cas : détermination des paramètres du plan de contrôle, mise en place
  • et utilisation de la carte de contrôle, application à un système de surveillance...

 

Public

Personnel impliqué dans les décisions métrologiques relatives aux préemballages, maîtrisant déjà les bases de la métrologie des préemballés et des statistiques (Formation préalable conseillée : QE040).

 

Offre DUO

Tarif réduit pour la participation aux 2 modules complémentaires :

1250 € HT les 2 jours

 

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